Timing analysis for complex digital gates and circuits accounting for transistor degradation / S.V. Gavrilov, O.N. Gudkova, R.A. Solovyev
By: Gavrilov, Sergey Vitali.
Contributor(s): Gudkova, Olga Nikolay | Solovyev, Roman Alexandr.
Material type:
ArticleOther title: Տրանզիստորների դեգրադացիայի հաշվառմամբ բարդ թվային փականների և սխեմաների ժամանակային վերլուծություն [Parallel title] | Временной анализ сложных цифровых вентилей и схем с учетом деградации транзисторов [Parallel title].Subject(s): Electronics | Էլեկտրոնիկա | Электроника | Static timing analysis | The threshold voltage of the transistor | NBTI (Negative Bias Temperature Instability)Online resources: Electronic version
In:
Proceedings of State engineering university of Armenia . Series: Information technologies, electronics, radio engineering 2013, № 1, pp. 84-93
| Item type | Current location | Collection | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Articles | Article | Electronic Article |
Bibliogr.: p.92-93 (10 references)