National Polytechnic University Library Catalog

Normal view MARC view ISBD view

Исследование структурных искажений возникающих в полупроводниковых кристаллах под действием электрических и магнитных полей методом рентгенодифракционного муара : Дис. ... канд. техн. наук : 05.16.01 / ГИУА.

By: Аршакян, Эдуард Завенович.
Contributor(s): Государственный инженерный университет Армении.
Material type: materialTypeLabelBookPublisher: Ереван : 2001Description: 105 с. ил.Subject(s): Материаловедение и композиционные материалы | Кристаллография | Рентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучейGenre/Form: DissertationDissertation note: Науч. рук. А.О. Абоян
Item type Current location Collection Call number Status Notes Date due Barcode
Dissertations Dissertations Reading Room 620.22:548:539.26 (043.3) А-89 (Browse shelf) In House 5 Hour Loan EU0235172

Науч. рук. А.О. Абоян

Список лит. с. 93-105

Powered by Koha