Тестирование технологических показателей кремниевых микросхем инструментами визуализации :
Мелконян, Давид Карапетович
Тестирование технологических показателей кремниевых микросхем инструментами визуализации : Автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01, 05.11.16 / Սիլիցիումային միկրոսխեմաների տեխնոլոգիական ցուցանիշների թեսթավորում տեսանելիացման գործիքներով : Սեղմագիր տեխն. գիտ. թեկն. ... ատենախոսության : Ե.27.01, Ե.11.16 МОиН РА, ГИУА. - Ереван : 2004. - 24 с.
Науч. рук. С.О. Мкртчян
Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты и микроэлектроника
Информационно-измерительные системы
Thesis
Тестирование технологических показателей кремниевых микросхем инструментами визуализации : Автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01, 05.11.16 / Սիլիցիումային միկրոսխեմաների տեխնոլոգիական ցուցանիշների թեսթավորում տեսանելիացման գործիքներով : Սեղմագիր տեխն. գիտ. թեկն. ... ատենախոսության : Ե.27.01, Ե.11.16 МОиН РА, ГИУА. - Ереван : 2004. - 24 с.
Науч. рук. С.О. Мкртчян
Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты и микроэлектроника
Информационно-измерительные системы
Thesis