Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Разработка и исследование тестовых структур для контроля параметров полупроводниковых структур методом фотоответа : Автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / МНО АрмССР, ЕрОТКЗПИ.

Կողմից։ Աջակցող(ներ)։ Նյութի տեսակ։ ՏեքստՏեքստԼեզու: Ռուսերեն Հրատարակման մանրամասներ։ Ереван, 1990.Նկարագրություն։ 25 сԽորագրեր։ Ժանր/Ձև։ Ատենախոսության նշում: Науч. рук. В.Н. Амазаспян
Պահումներ
Նյութի տեսակ Ընթացիկ գրադարան Հավաքածու Դարակային համար Վիճակ Նշումներ Վերադարձի ամսաթիվ Շտրիխ կոդ
Author's Abstracts National Polytechnic University Library Scientific Dissertations Reading Room 621.382:004.38(043.3) Б-93 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) In House One Hour Loan EU0409540
Դիտման National Polytechnic University Library դարակ, Դարակի վրա տեղաբաշխում: Scientific, Հավաքածու։ Dissertations Reading Room Փակիր դարակի դիտակը (Թաքցնում է դարակի դիտակը)
621.38.002.3(043.3) П-85 Технология получения и свойства объемных и пленочных высокотемпературных сверхпроводящих материалов систем : 621.382:004.032.26(043.3) Н-19 Схемотехнические реализации нейронных сетей : 621.382:004.032.26(043.3) Ն-15 Նեյրոնային ցանցերի սխեմատեխնիկական իրականացումները : 621.382:004.38(043.3) Б-93 Разработка и исследование тестовых структур для контроля параметров полупроводниковых структур методом фотоответа : 621.382(043.3) А-15 Разработка и исследование полупроводниковых мультипроцессорных систем : 621.382(043.3) А-15 Разработка и исследование полупроводниковых мультипроцессорных систем : 621.382(043.3) Л-48 Исследование и разработка специального технологического оборудования на основе мощных тиристорных преобразователей :

Науч. рук. В.Н. Амазаспян

Ուղեկցվում է Կոհա