Babayan, Armen Vrezh <br/><br/>
Development of tools increasing quality assurance efficiency for built-in self test solutions in nanoscale SOC :  Synopsis of dissertation is submitted in fulfillment of the requirements for scientific degree of candidate of technical sciences : 05.27.01 / 
 Նանոչափական բյուրեղի վրա տեղադրված համակարգերի թեստավորման լուծումների որակի հավաստման արդյունավետությունը բարձրացնող գործիքների մշակումը :  Սեղմ. տեխն. գիտ. թեկն. ... ատենախոս. : Ե.27.01 
A.V. Babayan ; RA MoESCS, NPUA 
 - Yerevan,  2024. 
 - 24 p. 
<br/><br/>Sci. adv.: S.K. Shoukourian 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Electronics, micro and nanoelectronics
<br/><br/><label>Index Terms--Genre/Form: </label><br/>Synopsis