Торосян, Тигран Сурикович <br/><br/>
Исследование и разработка методов моделирования полупроводниковых памятей и неисправностей в них для построения тестов минимальной длины :  Автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.13 / 
ЕНИИММ. 
 - Ереван,  1990. 
 - 17 с. 
<br/><br/>Науч. рук. Л.М. Чахоян 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Вычислительные машины, комплексы, системы и сети
<br/><br/><label>Index Terms--Genre/Form: </label><br/>Thesis