Тепловая устойчивость транзисторов и надежность радиоэлектронной аппаратуры / Ю.А. Шифрин-Крыжаловский, В.С. Митин,.
Նյութի տեսակ։![Տեքստ](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
National Polytechnic University Library General Stacks | Scientific Literature Depository | 621.382 Ш-65 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | 30 Days Loan | EU0230638 | |
![]() |
National Polytechnic University Library General Stacks | Scientific Literature Depository | 621.382 Ш-65 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | 30 Days Loan | EU0230639 | |
![]() |
National Polytechnic University Library General Stacks | Scientific Literature Depository | 621.382 Ш-65 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | 30 Days Loan | EU0230640 | |
![]() |
National Polytechnic University Library General Stacks | Scientific Literature Depository | 621.382 Ш-65 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | 30 Days Loan | EU0230641 |
Библиогр: с. 252 (19 назв.)