000			01105-am-a2200193-a-4500
001			000184968
005			20240715052914.0
008			990318s1976 xxu 000 0 rus u
020			_c0.72
100	1		_aБацанов, Степан Сергеевич
245	1	0	_aСтруктурная рефрактометрия : _bУчебное пособие / _cС.С. Бацанов.
250			_a2-е изд., перераб. и доп.
260			_aМосква : _bВысшая школа , _c1976.
300			_a204 с.
504			_aБиблиогр. 306 назв.
650	1	4	_aМетоды, основанные на измерении интерференции, показателя преломления, поляризации и т.д.
999			_c35653 _d35653
041			_arus