| 000 | 01066nam a2200217 u 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000058008 | ||
| 005 | 20240731082521.0 | ||
| 008 | 030329s1987 ||||| |||||||||||||rus|c | ||
| 245 | 0 | 0 |
_aАнализ поверхности методом оже- и рентгеновcкой фотоэлектронной спектроскопии / _cПод ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха ; Пер. с англ. под ред. В.И. Раховского и И.С. Реза. |
| 246 | 1 | 1 | _aPractical Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy |
| 260 |
_aМосква : _bМир, _c1987. |
||
| 300 |
_a600 с. : _bил. |
||
| 504 | _aСписки лит. в конце гл. | ||
| 650 | 1 | 4 | _aПоверхностные явления - Спектроскопические исследования |
| 700 | 1 |
_aБриггс, Д. _eред. _4edt |
|
| 700 | 1 |
_aСих, М.П. _eред. _4edt |
|
| 700 | 1 |
_aРаховский, В.И. _eпер. _4trl |
|
| 700 | 1 |
_aРез, И.С. _eпер. _4trl |
|
| 999 |
_c4615 _d4615 |
||
| 041 | _arus | ||