| 000 | 01807nam a2200229 u 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000482966 | ||
| 005 | 20240715053646.0 | ||
| 008 | 060404s2004 ||| fra 000 0 rus d | ||
| 041 | 0 | _arus | |
| 100 | 1 | _aМелконян, Давид Карапетович | |
| 245 | 1 | 0 |
_aТестирование технологических показателей кремниевых микросхем инструментами визуализации : _bАвтореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01, 05.11.16 / _cМОиН РА, ГИУА. |
| 246 | 1 | 1 |
_aՍիլիցիումային միկրոսխեմաների տեխնոլոգիական ցուցանիշների թեսթավորում տեսանելիացման գործիքներով : _bՍեղմագիր տեխն. գիտ. թեկն. ... ատենախոսության : Ե.27.01, Ե.11.16 |
| 260 |
_aЕреван : _c2004. |
||
| 300 | _a24 с. | ||
| 502 | _aНауч. рук. С.О. Мкртчян | ||
| 650 | 1 | 4 | _aТвердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты и микроэлектроника |
| 650 | 1 | 4 | _aИнформационно-измерительные системы |
| 655 | 7 | _aThesis | |
| 710 | 2 | _aМинистерство образования и науки Республики Армения | |
| 710 | 2 | _aГосударственный инженерный университет Армении | |
| 999 |
_c54636 _d54636 |
||