000 00704nam a2200169 u 4500
001 000631655
005 20240715054229.0
008 090212s1950 r 000 0 rus d
041 0 _arus
100 1 _aЛевин, Б.М.
245 1 0 _aКонтактный метод измерения микрогеометрии поверхности :
_bОсновы метода и оптические профилографы /
_cБ.М. Левин.
260 _aМосква ;
_aЛенинград :
_bМашгиз,
_c1950.
300 _a192 с. :
_bил.
504 _aБиблиогр. 66 назв.
650 1 4 _aИзмерение плоскостей и сечений
999 _c69760
_d69760