Исследование и разработка методов моделирования полупроводниковых памятей и неисправностей в них для построения тестов минимальной длины :

Торосян, Тигран Сурикович

Исследование и разработка методов моделирования полупроводниковых памятей и неисправностей в них для построения тестов минимальной длины : Автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.13 / ЕНИИММ. - Ереван, 1990. - 17 с.

Науч. рук. Л.М. Чахоян


Вычислительные машины, комплексы, системы и сети


Thesis

Ուղեկցվում է Կոհա