Исследование и разработка методов моделирования полупроводниковых памятей и неисправностей в них для построения тестов минимальной длины : (Գրառման հմ. 98781)

ՄԵԸՔ մանրամասներ
000 -LEADER
fixed length control field 01346nam a2200193 u 4500
001 - CONTROL NUMBER
control field 000930987
005 - DATE AND TIME OF LATEST TRANSACTION
control field 20240715055355.0
008 - FIXED-LENGTH DATA ELEMENTS--GENERAL INFORMATION
fixed length control field 121127s1990 frm 000 0 rus d
041 0# - LANGUAGE CODE
Language code of text/sound track or separate title rus
100 1# - MAIN ENTRY--PERSONAL NAME
Personal name Торосян, Тигран Сурикович
245 10 - TITLE STATEMENT
Title Исследование и разработка методов моделирования полупроводниковых памятей и неисправностей в них для построения тестов минимальной длины :
Remainder of title Автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.13 /
Statement of responsibility, etc. ЕНИИММ.
260 ## - PUBLICATION, DISTRIBUTION, ETC.
Place of publication, distribution, etc. Ереван,
Date of publication, distribution, etc. 1990.
300 ## - PHYSICAL DESCRIPTION
Extent 17 с.
502 ## - DISSERTATION NOTE
Dissertation note Науч. рук. Л.М. Чахоян
650 14 - SUBJECT ADDED ENTRY--TOPICAL TERM
Topical term or geographic name entry element Вычислительные машины, комплексы, системы и сети
655 #7 - INDEX TERM--GENRE/FORM
Genre/form data or focus term Thesis
710 2# - ADDED ENTRY--CORPORATE NAME
Corporate name or jurisdiction name as entry element Ереванский научно-исследовательский институт математических машин
Պահումներ
Damaged status Not for loan Home library Current library Full call number Barcode Koha item type Public note
  In House National Polytechnic University Library National Polytechnic University Library 004.7.001.57(043.3) T-61 EU0543475 Author's Abstracts One Hour Loan

Ուղեկցվում է Կոհա