Տեքստ| Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
Books
|
National Polytechnic University Library General Stacks | Scientific Literature Depository | 621.385 Б-91 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | 30 Days Loan | EU0231948 | |
|
Books
|
National Polytechnic University Library General Stacks | Scientific Literature Depository | 621.385 Б-91 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | 30 Days Loan | EU0232428 |
Դիտման National Polytechnic University Library դարակ, Դարակի վրա տեղաբաշխում: General Stacks, Հավաքածու։ Scientific Literature Depository Փակիր դարակի դիտակը (Թաքցնում է դարակի դիտակը)
| 621.385 Б-90 Электронные устройства автоматического управления / | 621.385 Б-90 Электронные устройства автоматического управления / | 621.385 Б-90 Электронные устройства автоматического управления / | 621.385 Б-91 Точечные дефекты в полупроводниках : | 621.385 Б-91 Точечные дефекты в полупроводниках : | 621.385 Б-92 Физические основы расчета полупроводниковых термоэлектических устройств / | 621.385 Б-92 Физические основы расчета полупроводниковых термоэлектических устройств / |
Список лит.: с 289-297
Оригинал на англ. : Point Defects in Semiconductors II. Experimental Aspects / J. Bourgoin, M. Lannoo- Berlin : Springer-Verlag : 1983