Исследование и разработка методов моделирования полупроводниковых памятей и неисправностей в них для построения тестов минимальной длины : Автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.13 / ЕНИИММ.
Նյութի տեսակ։
ՏեքստԼեզու: Ռուսերեն Հրատարակման մանրամասներ։ Ереван, 1990.Նկարագրություն։ 17 сԽորագրեր։ Ժանր/Ձև։ Ատենախոսության նշում: Науч. рук. Л.М. Чахоян
| Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Author's Abstracts | National Polytechnic University Library Scientific | Dissertations Reading Room | 004.7.001.57(043.3) T-61 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | In House | One Hour Loan | EU0543475 |
Науч. рук. Л.М. Чахоян